T518FR 在线测试机
视窗版作业环境、人性化界面设计、操作简易
电脑自动学习并自动产生,开/短路、Pin Information及IC 保护二较体之测试程式
电脑自动隔离点选择功能,自动判断信号源及信号流入方向
可网路连线,并結合资料库管理及测试站监控程式
Board View功能可即时显示不良元件、针点之位置,方便检修
高科技半导体CMOS Switching设计,无寿命限制,待测物安全性较’高
操作界面可以压床式、真空式、Off-Line、In-Line等模式
大型主机设计,高密度SwitchingBoard,较‘高可达3584测试点
可加装调整裝置具动态调整功能
多重安全性设计,确实**操作人员
率先引进TestJet Technology技术,518FE在线测试机,检测SMT元件开路空焊问题,效果较’佳
应用IC Clamping Diode技術,可辅助检测 BGA 开路空焊问题
辅助学习模組可检测IC反向问题
漏电流量测方式可辅助检测电容级性达50-60%
具备1MHZ信号源,518FE测试机,可'精'确测量小电容小电感
具三点量测模式,可量测电晶体FET、SCR等元件,并可对Photo-Coupler提供四 点量测,测试机,确实检测上述元件之反插问题
具Pin Contact检查功能
在线测试仪规格参数表
项目
详细参数
测试点数
标准配备:256点,可以每片开关板128点扩充至1792点
大型主机(8u):可以每片关开板256点扩充至3584点
测试步骤
较’大步骤: 12288步骤,可依需求扩充
测试时间
开路/短路测试:每1000点约1Sec(Typical DUT)
元件测试:每一元件约0.4mSec至25mSec(Typical DUT)
测试范围
电阻:0.01Ω至100MΩ 电晶体/二较体: 0.1V至9.99V
电容:1.0PF至100mF Zener Diode:标准,0.1V至9.99V
选配HV,0.1V至48V 电感:1.0μH至250H